O’zbekiston respublikasi oliy va o’rta maxsus ta’lim vazirligi mirzo ulug’bek nomidagi o’zbekiston milliy universiteti p. Habibullayev nomidagi fizika fakulteti “fotonika” kafedrasi 5A140202 “Fizika (Optika)

Skanerlovchi tunnel mikroskop (STM)

• Skanerlovchi tunnel mikroskop (STM)
• STM asosi namuna sirti ustida undan bir nanometrdan kichik uzoqlikda sirpanib yuruvchi juda o'tkir ignadan iboratdir. Tunnel effekti tufavli igna uchi bilan sirt orasida tunnel tok o‘tadi
• Tunnel tokning namuna bilan igna orasidagi masofaga juda kuchli bog‘liqligi (bu masofaning 0,1 nm ga o‘zgarishi tunnel tokni 10 marta o'zgartiradi) STM ning yuqori sezuvchanligini ta'minlaydi. Shunday kichik masofada ignani tutib turish uchun tunnel tok qiymatiga bogTiq o‘zgaruvchi pezomanipulyatorlar bilan boshqariladigan kuzatuvchi sistema qurilmasi yaratilgan.
• Boshqaruvchi signallar qiymatini oTchab tekshirilayotgan soha balandligini aniqlaydi. Ignani namuna sirti bo‘ylab harakatlantirib, bir atom oTchami qadar aniqlikda sirt tuzilishini aniqlash mumkin.
• Tunnel tokini oTchashga asoslangan ushbu mikroskop yordamida olinadigan tasvirlar sirt yaqinidagi elektronlarning fazaviy taqsimlanishi to‘g‘risida maTumotlar beradi. Yaqqol qilib aytganda, tunnel mikroskop namuna sirti yaqinidagi elektronlar taqsimotini “ko‘radi”.